구조분석

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원자힘 현미경

Atomic Force Microscope, AFM
  • Model

    Nanowizard

  • Production

    JPK Instruments(Germany)

Compositions

  • Resolution
    Noise Lever RMS : <0.03 nm RMS
    Vertical Resolution : 0.01nm
    Lateral Resolution : 0.1nm

    Scan Range
    Lateral scan area : 100㎛ X 100㎛
    Vertical Range : 15㎛

    Scan Rate
    Contact mode(Max) : 3~5 Hz
    Non-Contact mode : 1 Hz ~ 3 Hz

장비활용용도

표면분석, 깊이분석, 이미지분석
  • 시료 표면의 3차원 이미지, 표면형상 및 거칠기 분석
    -공기, 액상에서의 초미세 구조분석
    -고해상도의 3차원 이미지
    -기게적, 광학적, 전기적 특성 분석
    -연질 시료, 나노박막 시료
    -표면형상의 정량적 분석
    -점탄성, 마찰력 등 상호 작용관계 규명
이름 연락처 메일주소
홍태은 051-974-6109 tehong@kbsi.re.kr
최혜정 051-974-6131 chj030812@kbsi.re.kr
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