구조분석

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투과전자현미경

Field Emission Transmission Electron Microscope, FE-TEM
  • Model

    JEM2100F

  • Production

    JEOL(Japan)

Compositions

  • Resolution
    accelerating voltage : 200 kV
    Point resolution : 0.24 nm or better
    Lattice resolution : 0.1 nm or better

    Specimen tilting
    ±30°/ ±70°or higher

    Spot Size(diameter)
    TEM mode : 2 - 5nm
    EDS mode : 0.5 - 2.4 nm
    NBD mode : 0.5 - 2.4 nm
    CBD mode : 0.5 - 2.4 nm

장비활용용도

표면분석, 깊이분석, 이미지분석
  • - 나노소재 및 박막소재 등 이미지 관찰 및 구조분석
    (전자회절 및 수렴성 빔 전자회절)
    - EDS를 이용한 시료의 정성, 정량분석 및 원소 Mapping
    - Grain Size & Grain Boundart 분석
    - Deformation, Strain 분석
이름 연락처 메일주소
최윤주 051-971-6112 yjchoi0512@kbsi.re.kr
김종필 051-974-6115 jpkim@kbsi.re.kr
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